近日,由芯師爺主辦的“第五屆硬核芯生態(tài)大會(huì)暨2023汽車芯片技術(shù)創(chuàng)新與應(yīng)用論壇”在深圳國(guó)際會(huì)展中心成功舉辦,成都蓉矽半導(dǎo)體有限公司(以下簡(jiǎn)稱:蓉矽半導(dǎo)體)副總經(jīng)理兼研發(fā)中心總經(jīng)理高巍博士受邀出席,并發(fā)表了主題演講《高可靠性是國(guó)產(chǎn)SiC功率半導(dǎo)體器件車載應(yīng)用的必經(jīng)之路》,從碳化硅(SiC)功率器件的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)、高可靠性要求、高可靠性的實(shí)現(xiàn)等維度出發(fā),剖析了國(guó)產(chǎn)碳化硅器件面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn),以及破局之路。
蓉矽半導(dǎo)體成立于2019年,總部位于成都,是四川省首家專注碳化硅功率器件設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)的高新技術(shù)企業(yè),擁有臺(tái)灣漢磊科技第一優(yōu)先級(jí)產(chǎn)能保障,目前擁有高性價(jià)比“NovuSiC?”和高可靠性“DuraSiC?”產(chǎn)品系列,涵蓋碳化硅二極管EJBS?與碳化硅MOSFET;硅基FR MOS與理想硅基二極管MCR?,應(yīng)用于光伏逆變器、儲(chǔ)能、充電樁、OBC及新能源汽車等領(lǐng)域。
隨著國(guó)內(nèi)新能源汽車、光伏、儲(chǔ)能等市場(chǎng)規(guī)??焖僭鲩L(zhǎng),碳化硅功率器件呈蓬勃之勢(shì),成為目前半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)最熱門的賽道之一,吸引了眾多半導(dǎo)體大廠以及初創(chuàng)新銳力量紛至沓來(lái),參與其中。
SiC功率器件火熱的背后,根由在于其材料性能。作為第三代半導(dǎo)體材料的代表,碳化硅材料(SiC)有著擊穿場(chǎng)強(qiáng)高、禁帶寬度大、飽和電子漂移速度大、熔點(diǎn)和熱導(dǎo)率高的優(yōu)點(diǎn),各項(xiàng)性能均優(yōu)于硅和氮化鎵(GaN),因而更適合于制作高溫、高頻及大功率器件,可以有效實(shí)現(xiàn)電力電子系統(tǒng)的高效率、小型化和輕量化。
基于上述優(yōu)勢(shì)特性,SiC功率器件被廣泛應(yīng)用于新能源、充電樁、軌道交通、光伏、開(kāi)關(guān)電源、輸配電等領(lǐng)域。“可以看出來(lái),SiC功率器件應(yīng)用市場(chǎng)主要集中在工業(yè)和汽車領(lǐng)域,而不是消費(fèi)領(lǐng)域,這就要求其必須滿足工業(yè)級(jí)以及車規(guī)級(jí)的可靠性需求?!备呶〔┦勘硎?。
談到SiC功率器件在新能源汽車上的應(yīng)用,高巍博士指出,“主要為兩個(gè)方向,一個(gè)用于車載充電系統(tǒng)(OBC),另一個(gè)用于主逆變器。”
首先是車載充電系統(tǒng)(OBC),SiC器件有利于OBC功率密度的提升和重量的降低。高巍博士分析了OBC 800V電池平臺(tái)系統(tǒng)中SiC器件的應(yīng)用表現(xiàn),其系統(tǒng)拓?fù)涫侨嗳珮騪fc+cllc,功率為11kW/22kW,PFC是60kHz—140kHz,在這樣的場(chǎng)景下,采用1200V的SiC器件,系統(tǒng)拓?fù)鋾?huì)更簡(jiǎn)單,總損耗下降50%以上,磁性器件體積可降70%以上,效率提升約2%,峰值可以達(dá)到97%。
其次是在主逆變上的應(yīng)用,SiC器件相比硅基IGBT優(yōu)勢(shì)明顯,具有更高的功率轉(zhuǎn)換效率。高巍博士同樣以主逆變的拓?fù)溥M(jìn)行說(shuō)明,SiC功率模塊開(kāi)關(guān)損耗相比IGBT減小75%以上,系統(tǒng)效率提升約3%,最高效率可達(dá)到99%以上;同時(shí),由于SiC功率器件開(kāi)關(guān)速度快,所以死區(qū)時(shí)間可減小到1μs以內(nèi),大幅提升控制性能。這樣帶來(lái)的直接好處就是行駛里程的增加,對(duì)比硅基IGBT,使用SiC器件的電動(dòng)車將增加5—10%的續(xù)航里程,整車重量減小4%,電池+冷卻液成本可降低約900美金。
雖然市場(chǎng)產(chǎn)銷兩旺,但是我國(guó)碳化硅功率器件仍處于早期階段,在技術(shù)成熟度、穩(wěn)定量產(chǎn)能力、產(chǎn)業(yè)鏈配套等方面與海外還存在較大差距,尤其是電動(dòng)汽車主驅(qū)用碳化硅功率器件,現(xiàn)階段完全依賴進(jìn)口。
究其背后原因,高巍博士分析到,“一是新能源汽車應(yīng)用涉及生命財(cái)產(chǎn)安全,對(duì)SiC器件的可靠性、工藝等方面都有著高要求;第二點(diǎn)是新能源汽車對(duì)功率器件要求的壽命是15至20年,技術(shù)門檻高;第三點(diǎn)是對(duì)器件質(zhì)量要求很高,器件ppm級(jí)的低失效率保障;第四點(diǎn),則是和公司的可靠性要求有關(guān),高質(zhì)量、長(zhǎng)時(shí)間、穩(wěn)定供給的器件設(shè)計(jì)公司,是獲得車廠信任的保證。”

圖源:截自蓉矽半導(dǎo)體演講PPT
而針對(duì)車載應(yīng)用的高可靠性要求,SiC功率器件目前面臨著一系列挑戰(zhàn):一是良率保證和設(shè)計(jì)工藝保證,這是基礎(chǔ);第二點(diǎn)是所有器件必須滿足AEC-Q101基本保障;第三點(diǎn)是器件廠商的質(zhì)量管理體系保證;最后是供應(yīng)鏈體系的保證,只有具備穩(wěn)定的供應(yīng)鏈保證,車廠才會(huì)選擇合作。
針對(duì)上述挑戰(zhàn),高巍博士從蓉矽半導(dǎo)體出發(fā),分享了蓉矽半導(dǎo)體在良率保證、設(shè)計(jì)工藝保證等角度的舉措,闡述如何解決功率器件的高可靠性問(wèn)題。
第一,高良率是高可靠性的保證?!耙粋€(gè)產(chǎn)品要做到高良率,離不開(kāi)設(shè)計(jì)、材料、工藝這三要素。”高巍博士表示,“設(shè)計(jì)方面,蓉矽半導(dǎo)體從設(shè)計(jì)階段就引入了DFR的觀念,設(shè)計(jì)之初就考慮到產(chǎn)品的可靠性,并把可靠性觀念貫穿產(chǎn)品的整個(gè)生命周期;材料方面,高品質(zhì)、低缺陷材料的選擇是良率的保障;工藝方面,作為設(shè)計(jì)公司,由于沒(méi)有自己的Fab,需要將所有工藝委外于Foundry,因此選擇具備成熟平臺(tái)和穩(wěn)定工程管控的Foundry,是高良率的重要保證?!?/p>

圖源:截自蓉矽半導(dǎo)體演講PPT
?第二,柵氧的高可靠性保證。高巍博士從高頻開(kāi)關(guān)下的柵壓過(guò)沖問(wèn)題、柵氧化層失效機(jī)理等角度進(jìn)行了說(shuō)明。相對(duì)于傳統(tǒng)硅器件,碳化硅MOSFET結(jié)構(gòu)更加脆弱,其偶發(fā)失效率遠(yuǎn)高于同規(guī)格的硅基MOSFET,而柵氧是導(dǎo)致碳化硅失效一個(gè)特別重要也特別常見(jiàn)的失效現(xiàn)象,主要失效類型包括低勢(shì)壘導(dǎo)致的隧穿加劇、陷阱造成的TAT的加劇以及工藝制程中帶來(lái)的外部缺陷。
因此,SiC MOSFET的柵氧可靠性問(wèn)題成為了制約其快速發(fā)展的因素之一,器件柵氧介質(zhì)可靠性提升也是碳化硅功率MOSFET器件實(shí)現(xiàn)新能源汽車應(yīng)用面臨的重要瓶頸。
針對(duì)柵氧化層可靠性,蓉矽半導(dǎo)體首先是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié),通過(guò)降低工作狀態(tài)下的柵氧化層電場(chǎng)強(qiáng)度來(lái)緩解因隧穿電流造成的退化,以及通過(guò)柵氧化層的低電場(chǎng)設(shè)計(jì),延長(zhǎng)器件的壽命、降低器件在使用過(guò)程中的偶發(fā)失效率。

圖源:截自蓉矽半導(dǎo)體演講PPT
其次是篩選環(huán)節(jié),在常規(guī)UIS、DVDS篩選的基礎(chǔ)上,蓉矽半導(dǎo)體加入高應(yīng)力的測(cè)試項(xiàng)目以篩出早期失效品,比如有些產(chǎn)品因工藝缺陷,導(dǎo)致柵氧有些地方厚,有的地方薄,或者雜質(zhì)的摻入。
”但現(xiàn)實(shí)應(yīng)用中,對(duì)于碳化硅來(lái)講,最大的問(wèn)題不是解決早期失效的問(wèn)題,而是解決偶發(fā)時(shí)效初期的問(wèn)題,其真實(shí)原因,是沒(méi)有真正地在早期失效的這個(gè)位置上篩選出來(lái)?!案呶〔┦恐赋觯?strong>為解決早期失效模型建立這一難題,蓉矽半導(dǎo)體采取了兩大策略:
1、增加?xùn)叛趸瘜雍穸?/strong>
蓉矽半導(dǎo)體通過(guò)增加?xùn)艠O氧化層的厚度,可以提高柵極和漏結(jié)之間的絕緣電阻,從而提高擊穿電壓,因此對(duì)碳化硅而言,氧化層厚度的增加會(huì)帶來(lái)可靠性的指數(shù)級(jí)提高,但導(dǎo)通電阻僅呈線性增加,蓉矽半導(dǎo)體正通過(guò)設(shè)計(jì)手段不斷地優(yōu)化氧化層的厚度和電阻,在保證電性能的同時(shí)提高柵氧可靠性。
2、晶圓級(jí)Burn-in
蓉矽半導(dǎo)體在晶圓測(cè)試階段引入WLTBI(Wafer-Level Test & Burn-In)系統(tǒng),目的是在高溫度/電壓應(yīng)力的作用下,篩除SiC MOS中早期失效和偶發(fā)失效過(guò)渡區(qū)域內(nèi)存在風(fēng)險(xiǎn)的器件,以滿足車規(guī)PPM級(jí)失效率的要求。
演講最后,高巍博士總結(jié)到,在功率半導(dǎo)體市場(chǎng),國(guó)外廠商占據(jù)了主導(dǎo)地位,我國(guó)功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)仍處于起步階段,還需要付出很大的努力,蓉矽半導(dǎo)體作為產(chǎn)業(yè)中一員,愿意認(rèn)認(rèn)真真地做每一顆產(chǎn)品,從正向的角度去設(shè)計(jì)每一顆產(chǎn)品,與國(guó)產(chǎn)新能源汽車領(lǐng)域企業(yè)緊密合作,共同面對(duì)挑戰(zhàn),用高可靠性的產(chǎn)品服務(wù)客戶,真正實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量國(guó)產(chǎn)替代。
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